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EPFL Seeks High-Resolution Cs-Corrected STEM Microscope for Materials Research

Die EPFL beabsichtigt, ein hochauflösendes Cs-korrigiertes Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) anzuschaffen, das in die Elektronenmikroskopie-Plattform der EPFL, CIME, integriert werden soll. Zusätzlich zu den routinemäßigen, konventionellen TEM-Operationen wie BF/DF-Abbildungen und ausgewählter Bereichsbeugu…

Source ID: CH-SIMAP-32223-01

Scope overview

Die EPFL beabsichtigt, ein hochauflösendes Cs-korrigiertes Rastertransmissionselektronenmikroskop (STEM) anzuschaffen, das in die Elektronenmikroskopie-Plattform der EPFL, CIME, integriert werden soll.

Zusätzlich zu den routinemäßigen, konventionellen TEM-Operationen wie BF/DF-Abbildungen und ausgewählter Bereichsbeugung wird das neue Mikroskop dazu dienen, die Nanostruktur und chemische Zusammensetzung von Proben im Bereich der Materialwissenschaften, Physik und Chemie mit atomarer Auflösung zu untersuchen.

Es wird auch von unerfahrenen Anwendern in der Mikroskopie bedient werden, die Cs-korrigierte Mikroskopie-Techniken benötigen. Die Bedienung und Justierung sollte intuitiv sein und keine langjährige Erfahrung in Transmissionselektronenmikroskopie erfordern.

Das Mikroskop sollte den Wechsel von Abbildungstechniken und Hochspannungen innerhalb eines angemessenen Zeitraums ermöglichen und die vollständigen Spezifikationen erfüllen. In der Regel muss ein HT-Wechsel innerhalb einer einzigen Sitzung (einem halben Tag) möglich sein.

Statusopen
CategoryGoods
CountrySwitzerland
Publish dateFeb 24, 2026
Submission deadlineApr 7, 2026
Estimated value
Notice typetender_notice
Sourcech-simap-public-projects
BuyerEPFL-Scientific Equipment
Buyer websitehttps://www.simap.ch/
City

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Emailjerome.butty@epfl.ch
Phone+41216931111
OrganizationEPFL-Scientific Equipment

Tags & Signals

Cs-corrected STEMelectron microscopyatomic resolutionmaterials sciencenanostructure analysisCIME platformintuitive operationhigh-voltage switching
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